W pracy przedstawiono metodę poprawy procesu etykietowania oraz model odporny monitorowania uszkodzeń etykiet w celu zmniejszenia ilości odpadów etykiet i butelek. Opracowanie proponowanej metody monitorowania i wykrywania wad etykiet opiera się na wykorzystaniu kombinacji funkcji środowiska Matlab® oraz symulacji sprzętowej (ang. hardware-in-the-loop, HIL). Nowa metoda rozwiązuje problemy związane z wykrywaniem uszkodzeń przyklejanych etykiet do butelek w przemysłowej linii produkcyjnej oraz zawiera model odporny detekcji wad etykiet. Algorytm systemu monitorowania w procesie etykietowania został przedstawiony za pomocą sieci Grafcet, a następnie zrealizowany w środowisku Matlab Stateflow®. Proponowane algorytmy monitorowania/detekcji zostały zoptymalizowane pod kątem ich realizacji w istniejącym systemie sterowania opartym o programowalne sterowniki logiczne (ang. programmable logic controllers, PLCs). Przeprowadzone symulacje sprzętowe HIL pomyślnie weryfikują opracowane rozwiązania podnoszące efektywność produkcji. Zaproponowany odporny model detekcji uszkodzeń etykiet został zaimplementowany w układzie sterowania linii produkcyjnej i zweryfikowany eksperymentalnie. Zebrane dane statystyczne bezpośrednio z obiektu sterowania zostały opracowane w programie Statfit. Oprogramowanie Arena Simulation zostało wykorzystane do porównania wyników pracy linii produkcyjnej przed i po wprowadzeniu modelu wykrywania uszkodzeń etykiet.